Để kiểm tra rò rỉ pin của tế bào, ATEQ giới thiệu phương pháp thử nghiệm B28 mới được cấp bằng sáng chế, cung cấp điện áp ion hóa thấp an toàn để ion hóa các phân tử oxy trong không khí xung quanh tế bào pin. Nếu pin được cách điện đúng cách, thiết bị sẽ hiển thị kết quả 100%. Nếu có rò rỉ trong lớp cách điện của pin, các phân tử oxy bị ion hóa sẽ có thể chảy qua lỗ và các ion sẽ kết nối với bên trong tế bào pin mà không đốt cháy pin. Điều này sẽ hiển thị phần trăm cách điện 0% trên thiết bị và người vận hành hoặc máy sau đó có thể từ chối bộ phận đó.

B28 có thể được tự động hóa thành dây chuyền sản xuất để hỗ trợ kiểm tra tế bào đạt/không đạt nhanh chóng. Sau đó, bộ phận bị lỗi có thể được đưa đến bàn làm lại để kiểm tra vị trí rò rỉ thủ công bằng cách sử dụng bút Ioniq để tìm vị trí trên tế bào mà kim kiểm tra tạo ra chỉ số 0% trên thiết bị.